半导体镀层分析仪 散热效果好 有效屏蔽电磁干扰

  • 2024-05-06 16:34 2380
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江苏天瑞仪器股份有限公司

品牌:天瑞应用领域:进出口产品ROHS测试环境温度:15-30℃检测对象:固体,液体,粉末状测试范围:S-U

镀层测厚仪,是涂层测厚仪系列里的一款的仪器,适合钢铁等铁磁性基体上的涂料、清漆、搪瓷、铬、镀锌等非磁性涂层的测量,也可用于铜、铝、压铸锌、黄铜等非磁性金属基体上的非导电涂层如涂料、阳氧化层或陶瓷等的测量。仪器非常的实用并且具有多种特点。


镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机,并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头,非常的灵敏,会自动识别出测量基材,并且自动转换。

还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号,两种不同量程的探头可供客户选择。


半导体镀层分析仪

镀层测厚仪因为采用的是主机与探头分离式的设计,所以在购买时有两个不同量程的探头可以选择。F5N3的探头,大量程厚可以测到5mm,F3N3的探头,厚可以测到3mm。

在测量以mm为单位的镀层厚度时,大量程的镀层测厚仪LS223就可以满足您的测量需求。客户在选购时可以根据测量材料的厚度来选择相应的探头。镀层测厚仪90天无理由退换货,不满意都可以退。


半导体镀层分析仪

镀层测厚仪采用了电涡流原理以及霍尔效应测量的原理。主要用于测量金属以及非金属等基体上的油漆层、电镀层等非磁性材料的厚度。可以无损的测量出涂镀层的厚度。

广泛应用在电镀、喷涂、管道防腐、铝型材、钢结构、印刷线路版、及丝网印刷等行业中。特别适合用于生产现场的质量管控。


半导体镀层分析仪

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