江苏天瑞仪器股份有限公司
较薄可测试:0.005um较多可测试层数:5层原理:X荧光光谱检测器类型:SDD探测器算法:FP基本参数
库仑法适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳溶解库仑法,包括测量多层体系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度,还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度,尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
测试设备:电解测厚仪
参考标准:GB/T 4955, ISO 2177,ASTM 4
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