x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ,XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术,能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)。
X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。
大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。
人性化的设计
更安全:X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动;仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷:多点测试,点哪测哪
预约预热:根据设定时间,仪器可定时开始测试
预约开机预热功能:客户可预约仪器开机时间,同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态;同时可以实现预约关机,关机前可设定声光提示
X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用?
(1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品,同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。
(2) 铜块作用一是作能量校正,二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。
22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响?
(1) 原子序数较低的元素(或基体)对能量较高的谱线吸收系数较低,因此无限厚度也就大一点
(2) Sb的K线能量较高,能穿透更厚的样品(相对本样品中的其他元素的特征射线),所以饱和厚度也就比其他元素厚。
23.进行合金分析的时候,比如测定硅锰中的si时,用什么进行校正要好些呢?
(1) 用含Si量接近待测合金中Si含量的合金标样校正。
(2) 基体校正这个说法不正确。如果说基体校正的话,我想你所做的试样中只有锰和铁能对其构成基体上的影响。
实际上,你可能是由于线性不好,所以觉得应该做“基体校正”。
原因是:
A、可能是定值还得在准确一些。
B、制样上的偏差比较大。
其中*二条比较主要。那没有办法,自己解决。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合得奖号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。
x荧光光谱仪xrf标准配置
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
合金测试**薄窗X光管
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
三重安全保护模式
整体钢架结构,力度可靠的保证
机芯温度技术,确保射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。
多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程, 让仪器工作更稳定、更安全。
真空测试软件,是否抽真空可自由选择,真空度实时显示,标准视窗设计,界面友好,操作简便,所有控制均在轻点鼠标之间。
本机采用USB2.0接口,有效保证数据准确高速有效的传输。
全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,大提高了轻元素的检出限,同时也扩大了检测范围。
一体化真空腔体设计,有效地保证了符合测试要求的真空度,同时提高了设备的可维性。
抽真空测试和不抽真空测试转换简单,方便客户使用;同时开盖即解除真空,安全、简单实用。