廊坊X射线荧光光谱仪 XRF光谱仪

昆山市周市牧亚凯机电设备商行

环保是世界的潮流，但是不断出现的环境污染事件，使人们日益关注自身的健康，关注有害元素对人的危害，**都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值日渐降低，例如，2006年7月1日实施的欧盟RoHS指令中铅元素限制值是1000ppm，09年实施的美国消费品安全法（简称CPSIA）,铅元素限制值降低到90ppm,面对市场需求,秉承“天瑞仪器,无微不至”的精神,采用新技术,特别设计了SUPER系列的X荧光光谱仪。
性能优势
采用特的光路设计和双引擎设计，并结合使用多组滤片和多组光管激发材的切换，大大地降低了仪器的信噪比，使该仪器在X荧光设备中具有的元素检出限。
大器稳重、准确无损
大样品腔设计，适合于不同大小和形状的样品测试。采用了多重信号的电路处理和滤波技术，使测试更加稳定准确。
自动化程度高、高清摄像头
仪器多组滤片和光路自动切换，自动升降测试盖，高清摄像头。
软件
软件，特别针对玩具指令检测的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、操作简易、对操作人员限制小的特点。
人性化设计
具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化。
技术参数
元素分析范围：硫（S）～铀（U）
分析含量：0.1ppm～99.9%
重复性：0.1%
稳定性：0.1%
环境温度 ：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
仪器配置
**锐X光源和一样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器，滤光片 
高清晰CCD摄像头 
Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
计算机及喷墨打印机 
X荧光分析软件

EDX系列特点介绍
X荧光光谱分析仪器是使用X射线照射试样，对产生的X射线荧光进行解析，用以分析试样元素和含量的装置。由于X荧光光谱仪器使用方便、快捷，精度高，成本低等特点，已经在很多行业得到广泛的应用。尤其在地质矿产行业，其应用更得到客户的认可，它们具有以下特点： 
1、 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素，并达到测量精度要求。
2、 X荧光光谱分析仪是能量色散的设备，其结构简单，可靠性高，对环境要求较低，可以使用在生产*，并对操作人员的要求也很低。维修方便，维护成本很低。
3、 它采用进口国际上的UHRD探测器，分辨率可达到128eV以上，并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。便携式Pocket系列分辨率可达到180±5eV。
4、 台式系列X荧光光谱分析仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。可分析的元素范围从Na到U，便携式Pocket系列可分析元素范围从S到U。
5、 它们是非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
6、 由于台式系列X荧光光谱分析仪产品测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。及其系列产品的分析精度低于0.05％，检出限可高达2ppm（不同的样品其指标有所不同）。
7、 可以一次分析二十四种元素，并且同时报告结果。在实际应用中，对主元素与参考元素可以同时分析，这非常适合*生产工艺的要求，同时对产品失效快速分析提供依据。 
8、 测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
9、 便携式系列X荧光光谱分析仪坚固耐用、稳定可靠、使用灵活、校准方便等特点，化PDA测试软件使在测试时高灵敏度、蓝牙通讯、高速度、多模式多元素自动定性定量分析，便携、方便使用，便于客户在现场分析和原位分析。
EDX系列应用范围
台式系列和便携式系列X荧光光谱分析仪，已经在矿产行业中得到了实际广泛应用并得到客户的认可。矿产行业应用客户及应用范围如下：
 测试陶瓷、古陶瓷、青铜器等，作年代和真伪坚定
 测试各种矿样和实验研究
测试铁氧体材料及磁性材料配比成分

RoHS分析仪器配置：
X荧光光谱仪
对检测样品可行快速扫描，比如先用XRF仪器对样品进行粗测，发现管控元素**过控制标准或接近管控标准时，再进一步用化学方法进行确认，这种物理和化学检测相结合的形式可大大减少检测成
本，缩短检测周期，无形中提高了检测效率，对生产单位来讲，就是赢利。
1．快速分析仪器： XRF系列 可元素扫描 也可膜厚检测
1.测量元素：从钠至铀等75种元素
2.测量对象：粉末、固体、液体
3.元素含量分析范围：1ppm-99.99%
4.RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达1ppm
5.测量时间：60-200s
6.能量分辨率为：140±5eV(德国产SDD探测器)
7.测量精度：<0.05%
8.管压：5-50kV
9.管流：50-1000uA
10.温度适应范围：15-30℃
11.相对温度：≤70%
12.仪器功率：≤200W
13.工作电压：AC 110V/220V
14.三维自由**大样品腔设计，样品腔尺寸Ø320 * 180mm
15.一次可同时分析24个元素
16.可测卤素
17.重量：75kg

1、X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法，通过X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品；受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线（二次X射线）——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性（莫塞莱定律），这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量，通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
1.1 设备及试剂 
设备：X射线荧光光谱仪一台；电子天平一台（精度0.01g）；自动压片机一台（压力不小于40T）；鼓风干燥箱一台；振动磨一台；非金属样品筛（200目） 
试剂： 粉末（分析纯）；土壤标准物质；土壤样品 
1.2 样品的采集、保存和前处理 
土壤样品的采集和保持按照HJ/T166执行，样品的风干或烘干按照HJ/T166相关规定进行操作，样品研磨后过200目筛，于105℃烘干备用。 
用电子天平称量5.00g过筛（200目）的土壤标准物质或样品和12.00g粉末（镶边材质），称量误差±0.05g。然后放入压片机中压片成型，压力30T（压力范围20～30T）,保压时间30s。 
1.3 工作曲线的建立和样品分析 
设定适当的测量条件，使用EDX3200S PLUS扫描标准物质（简称标样）GSS-1～GSS-15，建立土壤标样中关注元素含量与强度的线性工作曲线。然后，对未知样品进行测量。
2. 测量及数据分析 
2.1 土壤中关注的金属元素及氧化物检出限测量 
 配有三组滤光片，根据土壤中关注元素的特性，设置测试条件。用土壤标样GSS-1-GSS-15标定仪器，建立环境土壤工作曲线。在环境土壤工作曲线下，使用高纯SiO2 做空白基体，连续测试11次，根据检出限公式： 3倍的空白基体的标准偏差除以仪器的灵敏度 
终获得测量土壤样品的方法检出限
产品名称：X荧光光谱仪 
测量元素范围：从钠（S）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 
同时分析元素：一次性可测几十种元素 
测量时间：60秒-300秒 
探测器能量分辨率为：可达125eV
管压：5KV-70KV 
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm 
性能特点 
**薄窗X光管，指标达到国际水平 
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。
FastSDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同元素自动切换滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
仪器具备安全许可证，且对设备进行三重X射线屏蔽设计，保证了环境下无泄漏，让测试人员安全放心的使用
硬件联动装置，权限安全锁，保证软件失效的情况下还能对设备进行控制，保证设备在使用中的安全无放射
标准配置 
**薄窗X光管 
Fast SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
自动切换滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序