厚度测试仪 深圳天瑞仪器 镀层成份分析

  • 2025-02-28 15:15 280
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江苏天瑞仪器股份有限公司

较薄可测试：0.005um较多可测试层数：5层原理：X荧光光谱检测器类型：SDD探测器算法：FP基本参数

铜镀锡件厚度检测，材料金属镀层厚度检测。
镀层成份分析
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