膜厚测厚仪

膜厚测厚仪产品详细资料介绍，膜厚测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光膜厚测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
自动、智能、在线检测
自动：可编程自动位移平台，无人值守、自动检测样品；一次编程便可实现成百上千个样品点的检测
智能：实现自动AI影像智能寻点，编程档案自动匹配测试位置，在面对大批同类型样品检测时，具备明显的优势
在线：根据客户要求可个性化定制产线在线式检测，为工业4.0提供在线检测整体解决方案，提高检测效率，实现全自动智能化工厂

仪器配置：
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

镀铜层：镀铜层对锌、铁等金属为阴性镀层，常常用于各种金属基体或某些塑料上作为镀铜/镍防护-装饰性镀层的底层或中间层，也可用于印刷电路、电铸模等方面。
镀镍层：镀镍层对钢铁零件为阴性镀层，它具有较高的硬度，抗蚀性比铜高，能耐碱，也比较能耐酸。常用于钢铁零件的镀铜/镍/铬防护-装饰性镀层的中间层及酸性镀铜前的预镀。
镀铬层：镀铬层对钢铁零件为阴性镀层。它具有较高的耐热性，常温下硬度好，耐磨性好，光反射性强，被广泛用于提高零件的硬度、耐磨性、光反射性以及修复尺寸和装饰等方面。
镀银层：镀银层对于常用金属为阴镀层，其导电、焊钎性能优良，化学性质稳定，主要用于电器工业中的导电部件及其焊接部位，还用于防护-装饰性镀层，如乐器、餐具、光学仪器及工艺品。

能量色散X荧光光谱分析仪，是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪！
此款产品可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。
苏州实谱信息科技有限公司是一家立志于研发和制造国际分析仪器和打造强国的。拥有的研发团队，开创了全新一代EFP核心算法，开发了高集成的四焦技术、闭环移动控制及AI影像识别。为微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测提供稳定，国际水准的无损自动检测解决方案。公司现有高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体**X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器，可广泛的应用于新能源、半导体、精密电子、环保rohs、地质地矿、电子元器件、贵金属行业、五金卫浴、5G通讯、电镀产业、航空航天等行业领域。