- 2024-05-21 12:42 3530
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便携式镀层测厚仪厂家 生产天瑞仪器 x荧光测厚仪
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较薄可测试：0.005um较多可测试层数：5层原理：X荧光光谱检测器类型：SDD探测器算法：FP基本参数
清晰的样本图像使用了分辨率比以往高的样本观察摄像头，采用全数码变焦，从而消除位置偏差，可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外，亦采用LED作为样本观察灯，*像以往的机型那样对灯泡进行换。
电镀层膜厚仪Thick800A:
