x荧光测厚仪 国家标准起草单位

  • 2024-12-11 12:05 340
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江苏天瑞仪器股份有限公司

较薄可测试:0.005um较多可测试层数:5层原理:X荧光光谱检测器类型:SDD探测器算法:FP基本参数
对测试人员需要进行长期严格的培训,人员操作技术要求高
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