环保无污染 X荧光光谱仪 营口X射线荧光光谱仪

  • 2024-12-28 13:38 1386
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昆山市周市牧亚凯机电设备商行

能量分辨率:144±5eV测量对象:元素含量测量范围:N-U测量精度:1ppm适用范围:电子电器、金属、塑料、涂料
随着玩具行业的发展,玩具安全法规在全世界范围内不断完善,如欧盟的《玩具安全指令》、美国的玩具安全标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具安全标准。这些安全标准对于玩具企业来说,执行这些标准责无旁贷;至于说到管控成本过高的问题,其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具安全检测设备,X荧光光谱仪是经济有效的检测设备,它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。
X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等)、包装物料的有元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
根据多年的RoHS检测技术和经验,以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
性能特点
RoHS检测,亦可用于镀层检测和全元素分析
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
电制冷硅针半导体探测器,摒弃液氮制冷
智能RoHS检测软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单
技术指标
测量元素:从硫到铀等 75 种元素
元素含量分析范围:1ppm-99.99%
RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检测限达 1ppm
测量时间:60-300s
能量分辨率:165±5eV
管压:5-50 kV
管流:50-1000μA
标准配置
信噪比增强器
特的光路增强系统
电制冷硅针半导体检测器
内置高清晰摄像头
自动切换准直器和滤光片
的平台
加强金属元素感度分析器
相互的基体效应校正模型
任意多个可选择的分析和识别模型
应用领域
电子电器行业,电镀行业、各种材质,塑胶,木头,玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测
营口X射线荧光光谱仪
X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等)、包装物料的有元素测试、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
调查显示,像上述玩具厂这类情况在的玩具企业普遍存在,目前玩具安全形势不容忽视。在对一些中、小型玩具企业的采访中了解到:除了部分中小企业忽视玩具生产过程的“绿色”外,部分企业对生产过程“绿色”的成本过高感到力不从心,一台检测仪器动辄都是四五十万,甚至上百万的昂贵设备望而却步,如果再加上维护成本和使用成本,这些企业更是不堪重负。
 X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
营口X射线荧光光谱仪
X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理:涂料表层经X射线激发,发射出特征X射线,特征X射线的能量对应于各特定元素,涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长,可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法:涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检,但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定:
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试,如Cd元素为100ppm,可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些**出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品**过130ppm以上铅含量时,就不必要做化学分析,可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关,所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
平台:精细的手动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:160±5eV
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测
营口X射线荧光光谱仪
RoHS分析仪器配置:
X荧光光谱仪
对检测样品可行快速扫描,比如先用XRF仪器对样品进行粗测,发现管控元素**过控制标准或接近管控标准时,再进一步用化学方法进行确认,这种物理和化学检测相结合的形式可大大减少检测成
本,缩短检测周期,无形中提高了检测效率,对生产单位来讲,就是赢利。
1.快速分析仪器: XRF系列 可元素扫描 也可膜厚检测
1.测量元素:从钠至铀等75种元素
2.测量对象:粉末、固体、液体
3.元素含量分析范围:1ppm-99.99%
4.RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限达1ppm
5.测量时间:60-200s
6.能量分辨率为:140±5eV(德国产SDD探测器)
7.测量精度:<0.05%
8.管压:5-50kV
9.管流:50-1000uA
10.温度适应范围:15-30℃
11.相对温度:≤70%
12.仪器功率:≤200W
13.工作电压:AC 110V/220V
14.三维自由**大样品腔设计,样品腔尺寸Ø320 * 180mm
15.一次可同时分析24个元素
16.可测卤素
17.重量:75kg

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