- 2026-07-04 12:19 930
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天瑞仪器生产 无损测厚仪 镀层厚度测试仪
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镀层厚度测试仪
较薄可测试：0.005um较多可测试层数：5层原理：X荧光光谱检测器类型：SDD探测器算法：FP基本参数
利用天瑞仪器的explorer5000镀银层测厚仪分析一系列铜镀银样品，所得结果如下表。各个数据点相关系数为0.996，线性相关性非常好。当银厚度为1-30 μm 范围内，测量值与标称值平均误差为0.6 μm， 30-60 μm 范围内平均误差为 1.3 μm，相对误差小于4%，在可接受范围以内，测厚范围可达1-60 μm。
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单位注册资金单位注册资金人民币 1 亿元以上。
