电镀膜厚测试仪x ray

电镀膜厚测试仪x ray产品资料介绍，x射线荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供镀层测厚仪的产品说明和报价。thick880基于xrf原理的荧光无损能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
X荧光镀层测厚仪分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可***测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

X荧光镀层测厚仪性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案务。
X荧光镀层测厚仪特点-简易：
对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案务。

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
镀层测厚仪的日常维护方法：
1、检修或者维修时注意关闭电源和电脑：当我们的镀层测厚仪在线上检修或者暂时不用于生产任务时，我们就要及时关闭测厚仪的扫描电源以及电脑，让其得到足够的冷却休整，在下一次开启时提**个小时为镀层测厚仪通上电和打开电脑，保证开启后能够正常的维持设备的运行；
2、检查好水冷却机的状态：为了防止设备运行过热我们在使用镀层测厚仪时一定要注意好水冷却机内的温度要保持在30度左右，每个月我们都需要给水冷却机进行换水，防止产生水体过于污浊产生沉淀物阻碍我们设备的使用；
3、定期进行润滑油的更换：要想我们技术化的镀层测厚仪能够正常持续的保持运转就得要定期的给扫描架的轴承进行润滑油的更换，这样技能提高我们设备的运行效率又能减少镀层测厚仪扫描架在使用时的磨损；